近場探頭的特色達到的近場測量的目的
　　近場探頭組包含4個無源磁場探頭和1無源電場探頭，所有探頭的頻率范圍為30MHz到6GHz，用于在研發階段測量磁場和電場。由于在探頭內部配置了阻抗匹配器，該探頭組與其他探頭相比，在低頻區較不敏感。使用XF1系列的探頭，可以逐步辨識電子模塊中的干擾磁場源。例如，首先用XF-R400-1型探頭檢測電子模塊總體發射出的干擾場，然后再用高分辨率探頭更準確地識別干擾源。電場探頭用于檢測電子模塊表面的干擾電場。通過相應地操作近場探頭，能夠測量出電磁場的方向及其分布。
　　近場探頭的特色:
　　寬帶率范圍的探頭可以完成幾乎所有的測試任務。
　　通過移動探頭可以檢測出磁場的方向和分布，適用于IC引腳區域、濾波電容、EMC器件等的磁場檢測；電場近場探頭可以檢測導體表面產生的電場。
　　無源探頭，可以直接連到頻譜分析儀或者示波器的50歐姆輸入端，方便檢查使用不同手段對磁場或者電流的變化。
　　使用方便，重量輕，安裝快捷。
　　1）近場測量的目的
　　近場測量方法得到的信息，能定位干擾源，從而采取相應措施以減少電磁干擾。EMC標準認證測試，是遠場測試。遠場測試能給出頻率信息，即哪些頻點超標了，但是沒有位置信息。為了通過測試，需要從源頭上來采取措施，所以需要應用近場測量來尋找干擾源。
　　2）近場探頭的用途
　　近場探頭主要應用于查找干擾源，判定干擾產生的原因。
　　可以檢測器件或者是表面的磁場方向及強度。
　　可以檢測磁場耦合的通道，從而調整連接器或者是顯示器位置
　　可以檢測模塊附近的磁場環境情況。了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的，通過近場測量可以很方便的實現定位的功能，甚至可以到IC引腳以及具體的走線。
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